Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3
- 刊名
- Journal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3
- ISSN
- 1932-5150
- EISSN
- 2708-8340
- 出版机构
- SPIE-SOC PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS
- 语种
- English
- 年份
- 2026
- IF 2024
- 1.8
ACADEMIC JOURNALJournal of Micro-Nanopatterning Materials and Metrology-JM3YANZHI JOURNAL DIRECTORY
大类学科
| 英文名 | 中文名 | 新锐分区 | JCR 分区 |
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| Physics and Astronomy | 物理与天体物理 | 3 区 | Q3 |
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| 英文名 | 中文名 | 新锐分区 | JCR 分区 |
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| ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 工程：电子与电气 | 4 区 | Q3 |
| NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 纳米科技 | 4 区 | Q3 |
| MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | 材料科学：综合 | 4 区 | Q3 |
| OPTICS | 光学 | 4 区 | Q3 |