MICROELECTRONICS RELIABILITY
- 刊名
- MICROELECTRONICS RELIABILITY
- ISSN
- 0026-2714
- EISSN
- 1872-941X
- 出版机构
- PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
- 语种
- English
- 年份
- 2026
- IF 2024
- 1.9
ACADEMIC JOURNALMICROELECTRONICS RELIABILITYYANZHI JOURNAL DIRECTORY
大类学科
| 英文名 | 中文名 | 新锐分区 | JCR 分区 |
|---|---|---|---|
| Engineering | 工程技术 | 4 区 | Q3 |
小类学科
| 英文名 | 中文名 | 新锐分区 | JCR 分区 |
|---|---|---|---|
| ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 工程：电子与电气 | 4 区 | Q3 |
| NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 纳米科技 | 4 区 | Q3 |
| PHYSICS, APPLIED | 物理：应用 | 4 区 | Q3 |