Surface Topography-Metrology and Properties

刊名
Surface Topography-Metrology and Properties
ISSN
2051-672X
EISSN
2051-672X
出版机构
IOP Publishing Ltd
语种
English
年份
2026
IF 2024
2.4
ACADEMIC JOURNALSurface Topography-Metrology and PropertiesYANZHI JOURNAL DIRECTORY

大类学科

英文名中文名新锐分区JCR 分区
Engineering工程技术3 区Q2

小类学科

英文名中文名新锐分区JCR 分区
ENGINEERING, MECHANICAL工程:机械3 区Q2
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION仪器仪表3 区Q2
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY材料科学:综合3 区Q2
企业微信咨询